FLIM

FLIM – 荧光寿命成像

abberior,我们不仅致力于提高您从样品上获得的空间分辨率信息量。我们也将荧光寿命成像集成到我们的系统中,为您t同时提供最好的空间和时间数据。因为在 abberior 每一个维度的信息都很重要。

增加第 5 维

MATRIX 探测器

多只眼睛看得更清楚。MATRIX 探测器可显著提高信噪比、分辨率和动态范围。

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自适应照明

显著减少样品和标记物上的光剂量。三维和活细胞超高分辨率的关键因素。

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自适应光学

优化每个束光

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EASY3D

简单的 3D-STED 和像差控制方式

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RAINBOW 彩虹探测

连续可变光谱探测。

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STED 激光器

全脉冲 STED 激光器,确保最高分辨率和最少漂白。

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自动校准

每一条光束都处于完好状态,包括针孔和 STED 形状

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自动聚焦

连续聚焦锁定,即便是对于 STED

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激发激光器

适用于几乎所有波长的脉冲激发激光器。

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FLIM

最好的寿命成像

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附件

让您的工作更轻松

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定制解决方案

我们可为挑战性的应用提供解决方案。只要具备可行性,我们就能实现。

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FLIM

现在是添加它的时候了

所有 abberior 显微镜,包括 STEDYCON,都可完全整合 Becker & HicklPicoQuant 的时间相关单光子计数 (TCSPC) 电子硬件,以进行寿命成像。

这样,寿命数据记录可与标准的荧光强度测量同步进行,并写入磁盘以备后续分析、或以直方图或颜色编码来显示寿命值。按 abberior 一贯做法,所有原始数据都会被保存。例如,您可导出伪彩显示的局部寿命图,也可检查和保存寿命图像堆栈,就像 2D 图像同时含有第三维度的完整寿命直方图。

FLIM

精确的寿命计时

使用我们的脉冲激光器和 TCSPC 电子部件,使您得以感知不同化学环境,并向您的图像数据添加额外维度信息。除了用不同染料标记外,您可使用 FLIM 获知局部 pH 或染料浓度,以获得额外的对比信息。

FLIM

清晰区分开有光谱重叠的染料

即使荧光染料具有相同的波长,FLIM 也可根据其寿命加以区分。这意味着 STED 和共聚焦成像可获得额外的通道!

  • 共聚焦和 STED FLIM 成像
  • 测量过程中实时显示 STED FLIM 图像
  • 基于寿命数据进行实时寿命计算和/或染料区分
  • 软件完全整合,实时数据评估

荧光寿命成像新增了一层额外的信息

“为什么我们经常推荐在我们的显微镜中使用 APD?为什么我们不担心这些探测器可能的低动态范围?”

Andreas Schönle 博士

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EASY3D

简单的 3D-STED 和像差控制方式

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